Syantifik rechèch-klas Raman spectrometer, ka konekte nan yon mikwoskòp pou analiz mikwo-Raman.
• Ekselan Pèfòmans: Pèfòmans espektral rechèch-klas ak avantaj tankou rezolisyon segondè, sansiblite segondè, ak gwo rapò siyal-a-bri.
• Tès ki pa destriktif: Kapab detekte dirèkteman atravè anbalaj transparan oswa semi-transparan, tankou vè, sache plastik, elatriye.
• Lojisyèl Pwisan: Konpatib ak sistèm operasyon divès kalite, ki kapab kolekte done, analiz, konparezon, ak lòt travay.
• Operasyon fasil: Entwisyon lojisyèl koòdone pou operasyon zanmitay itilizatè.
• Pwodwi pou Tès Multifonksyonèl: Ekipe ak sond fib optik, mikwoskòp Raman, estanda deteksyon sele, apwopriye pou deteksyon solid, poud ak likid.
• Apwopriye Anviwònman solid: Apwopriye pou anviwònman sou machin, satisfè kritè pou rezistans enpak nan tanperati ki wo ak ba, Vibration, ak tès gout.
Espektromèt Raman pòtab RS2000LAB/RS2100LAB ak espektromèt Raman rechèch RS3100 se twa espektromèt Raman segondè-pèfòmans.Yo gen karakteristik ekselan tankou sansiblite segondè, rapò siyal-a-bri segondè, ak yon pakèt espèk lajè.
Enstriman sa yo ka configuré ak diferan longèdonn eksitasyon ki baze sou kondisyon deteksyon, epi yo ofri jiska 4-chanèl konfigirasyon.Yo byen adapte pou satisfè bezwen enstitisyon rechèch, konpayi pharmaceutique, ajans regilasyon, ak lòt moun nan domèn rechèch tankou biopharmaceutique, materyèl polymère, sekirite manje, idantifikasyon legal, deteksyon polisyon nan anviwònman an, ak plis ankò.
Sou entènèt Raman byen vit detèmine rezilta transfòmasyon faz cristalline nan diferan kondisyon reyaksyon.
Sou entènèt Raman byen vit detèmine konsistans nan plizyè lo nan fòmilasyon ak fòm nan cristalline nan engredyan aktif pharmaceutique.
Envestigasyon ak evalyasyon konsistans nan fòm kristal dwòg
Analiz ak klasifikasyon konpozan aromat nan likè maotai-gou
Analiz sifas nan materyèl solid: etid nan pwodwi korozyon sou sifas metal iranyòm
Rechèch sou sinetik reyaksyon silikon
| Modèl | RS2000LAB | RS2100LAB | RS3100 |
| Konsepsyon / Aparans |  |  |  |
| Eksitasyonlongèdonn | 785 nm | 1064 nm | 532 nm |
| Pouvwa lazè | 0 ~ 500 mW, pouvwa kontinyèlman reglabl | 0 ~ 1200 mW, pouvwa kontinyèlman reglabl | 0 ~ 100 mW, pouvwa kontinyèlman reglabl |
| Rezolisyon | <6 cm- 1 | <9 cm- 1 | <8 cm- 1（50 μm déchirure）, <6 cm- 1(25 μm déchirure) |
| Pwa | <10 kg | <10 kg | <20 kg |
| Estabilite longèdonn | <0.01 nm | <0.01 nm | <0.01 nm |
| Detektè | Ki pa Peye-refwadisman ak gwo twou san fon refwadisman si ou vle | Ki pa Peye-refwadisman ak gwo twou san fon refwadisman si ou vle | Klas rechèch syantifik, kamera refwadisman gwo twou san fon |
| Spectrometer | Transmisyon gwo-debi espektwomèt | ||
| Pwodwi pou Telefòn estanda | Solid manch rad, manch rad likid, selil echantiyon limyè-prèv | ||
| Pwodwi pou Telefòn si ou vle | Mikwoskòp, etap mekanikman reglabl | ||
| Fonksyonalite lojisyèl | Akizisyon spectral, pwosesis done espèk, konparezon spectrogram, kalibrasyon ekipman | ||
| Anviwònman travay | Tanperati travay: 0 ~ 40 ℃.Tanperati depo: -20 ~ 55 ℃ | ||
| Fòma pwodiksyon done | Spc estanda spectre, txt, prn ak lòt fòma ki disponib | ||
1. Rechèch sou sinetik reyaksyon silicone
2. analiz sifas materyèl iranyòm
